产品中心：
ELSZNEO多角度纳米粒度及ZETA电位分析仪：
【ELSZneo使光散射的物性评价迈向新舞台】ELSZneo是ELSZ series的最高级机型，除了在稀薄溶液~浓厚溶液中进行zeta电位（Zeta Potential，ζ-电位）和粒径测定之外，还能进行分子量测定的装置。作为新的功能，为了提高粒度分布的分离能力，采用了多角度测定。另外，也可实现测量粒子浓度测定、微流变学测定、凝胶的网状结构分析。全新的zeta电位平板固体样品池，通过新开发的对应高盐浓度的涂层，可以在生理盐水等高盐浓度环境下进行测量。3μL就能测定粒径的超微量样品池也位列其中，从而扩大了生命科学领域的可能性。在0~90℃的宽温度范围内，可以进行自动温度梯度测量的变性相变温度分析。
量子效率测量系统 QE-2100：
产品信息 特 点 ：测量精度高 可瞬间测量绝对量子效率（绝对量子收率） 可去除再激励荧光发光 采用了积分半球unit，实现了明亮的光学系 采用了低迷光多通道分光检出器。
嵌入式膜厚检测仪：
产品信息 特 点 采用分光干涉法 搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利 第4834847号） 使用光学光纤，可灵活构筑测量系统 可嵌入至各种制造设备。 实时测量膜厚 可对应远程操作、多点测量...
特 点
●采用分光干涉法
●搭载高精度FFT膜厚解析系统（专利 第4834847号）
●使用光学光纤，可灵活构筑测量系统
●可嵌入至各种制造设备。
●实时测量膜厚
●可对应远程操作、多点测量
●采用寿命长、安全性高的白色LED光源
